熒光光譜測(cè)試儀又稱分光儀，廣泛為認(rèn)知的為直讀光譜儀。以光電倍增管等光探測(cè)器測(cè)量譜線不同波長位置強(qiáng)度的裝置。它由一個(gè)入射狹縫，一個(gè)色散系統(tǒng)，一個(gè)成像系統(tǒng)和一個(gè)或多個(gè)出射狹縫組成。以色散元件將輻射源的電磁輻射分離出所需要的波長或波長區(qū)域，并在選定的波長上（或掃描某一波段）進(jìn)行強(qiáng)度測(cè)定。分為單色儀和多色儀兩種。

標(biāo)準(zhǔn)配置：

1. 原裝電致冷Si-PINtanceqi

2. X射線光管模塊

3. 高低壓電源模塊

4. 多道分析模塊

5. 信噪比增強(qiáng)模塊

6. 集成IPAD觸摸屏

7. RoHS鹵素軟件系統(tǒng)

構(gòu)成

一臺(tái)典型的光譜儀主要由一個(gè)光學(xué)平臺(tái)和一個(gè)檢測(cè)系統(tǒng)組成。包括以下幾個(gè)主要部分：

1. 入射狹縫: 在入射光的照射下形成光譜儀成像系統(tǒng)的物點(diǎn)。

2. 準(zhǔn)直元件: 使狹縫發(fā)出的光線變?yōu)槠叫泄?。該?zhǔn)直元件可以是一獨(dú)立的透鏡、反射鏡、或直接集成在色散元件上，如凹面光柵光譜儀中的凹面光柵。

3. 色散元件: 通常采用光柵，使光信號(hào)在空間上按波長分散成為多條光束。

4. 聚焦元件: 聚焦色散后的光束，使其在焦平面上形成一系列入射狹縫的像，其中每一像點(diǎn)對(duì)應(yīng)于一特定波長。

5. 探測(cè)器陣列：放置于焦平面，用于測(cè)量各波長像點(diǎn)的光強(qiáng)度。該探測(cè)器陣列可以是CCD陣列或其它種類的光探測(cè)器陣列。

熒光光譜測(cè)試儀技術(shù)參數(shù)：

專業(yè)RoHS指令有害元素和鹵素快速，無損檢測(cè)；一體機(jī)設(shè)計(jì)，內(nèi)置工業(yè)計(jì)算機(jī)和IPAD觸摸屏，無需另配電腦和顯示器。
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